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J-GLOBAL ID:201702285371136482   整理番号:17A0822215

周波数分解スペクトロスコピの方法によるa-Si:Hにおける欠陥PLの測定

Measurements of defect PL in a-Si:H by means of frequency resolved spectroscopy
著者 (1件):
OGIHARA C.
(Yamaguchi Univ., Ube, JPN)

資料名:
Journal of Materials Science. Materials in Electronics  (Journal of Materials Science. Materials in Electronics)

巻: 28  号: 10  ページ: 7121-7125  発行年: 2017年05月 
JST資料番号: W0003A  ISSN: 0957-4522  CODEN: JMTSAS  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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