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文献
J-GLOBAL ID：201702286013125124
整理番号：17A0550771
分子動力学法を用いたSi/Si(1-x)Gex構造の界面熱抵抗評価
寺田拓哉
(早稲田大 理工学術院)
,
小出隆太
(早稲田大 理工学術院)
,
富田基裕
(早稲田大 理工学術院)
,
渡邉孝信
(早稲田大 理工学術院)
資料名：
応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)
(Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻： 64th ページ： ROMBUNNO.16p-P16-1 発行年： 2017年03月01日
JST資料番号： Y0054B ISSN： 2436-7613 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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