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J-GLOBAL ID:201702286304970393   整理番号:17A1359836

IoTノーマリオフCPU応用のための超低漏れのある結晶In-Ga-Zn-O材料とトランジスタの性能を向上【Powered by NICT】

Performance boost of crystalline In-Ga-Zn-O material and transistor with extremely low leakage for IoT normally-off CPU application
著者 (12件):
Wu Shao Hui
(United Microelectronics Corporation (UMC), No. 3, Pasir Ris Drive 12, Singapore)
Jia X Y
(United Microelectronics Corporation (UMC), No. 3, Pasir Ris Drive 12, Singapore)
Li Xiang
(United Microelectronics Corporation (UMC), No. 3, Pasir Ris Drive 12, Singapore)
Shuai Chi Chang
(United Microelectronics Corporation (UMC), No. 3, Pasir Ris Drive 12, Singapore)
Lin Hung Chan
(United Microelectronics Corporation (UMC), No. 3, Pasir Ris Drive 12, Singapore)
Lu Ming Chang
(United Microelectronics Corporation (UMC), No. 3, Pasir Ris Drive 12, Singapore)
Wu Tzung Han
(United Microelectronics Corporation (UMC), No. 3, Pasir Ris Drive 12, Singapore)
Liu Mu Yi
(United Microelectronics Corporation (UMC), No. 3, Pasir Ris Drive 12, Singapore)
Wu J Y
(United Microelectronics Corporation (UMC), No. 3, Pasir Ris Drive 12, Singapore)
Matsubayashi Daisuke
(Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Atsugi-shi, Kanagawa, Japan)
Kato Kiyoshi
(Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Atsugi-shi, Kanagawa, Japan)
Yamazaki Shunpei
(Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Atsugi-shi, Kanagawa, Japan)

資料名:
IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)

巻: 2017  号: VLSI Circuits  ページ: T166-T167  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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