文献
J-GLOBAL ID:201702286317344867
整理番号:17A0058192
二重学習に基づくジョイント超解像と圧縮アーチファクトの低減【Powered by NICT】
Joint super-resolution and compression artifact reduction based on dual-learning
著者 (4件):
Lee Oh-Young
(College of Electrical Engineering, Korea University, Seoul, Korea)
,
Lee Jae-Won
(College of Electrical Engineering, Korea University, Seoul, Korea)
,
Lee Dae-Yeol
(Electronics and Telecommunications Research Institute, Dae-jeon, Korea)
,
Kim Jong-Ok
(College of Electrical Engineering, Korea University, Seoul, Korea)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
VCIP
ページ:
1-4
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)