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文献
J-GLOBAL ID：201702286401804478
整理番号：17A0145813
SRAMベースのFPGAのための機能故障時間の予測法に基づく高感度ビット【Powered by NICT】
Sensitive bits based prediction method of functional failure time for SRAM-based FPGA
Cheng Gao
(School of Reliability and Systems Engineering, Beijing University of Aeronautics and Astronautics, Beijing 100191, China)
,
Yongkang Wan
(School of Reliability and Systems Engineering, Beijing University of Aeronautics and Astronautics, Beijing 100191, China)
,
Cheng Zhang
(School of Reliability and Systems Engineering, Beijing University of Aeronautics and Astronautics, Beijing 100191, China)
,
Xiangfen Wang
(School of Reliability and Systems Engineering, Beijing University of Aeronautics and Astronautics, Beijing 100191, China)
,
Jiaoying Huang
(School of Reliability and Systems Engineering, Beijing University of Aeronautics and Astronautics, Beijing 100191, China)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016 号： PHM (Chengdu) ページ： 1-5 発行年： 2016年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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