文献
J-GLOBAL ID:201702286532863961
整理番号:17A1355359
二次元磁気結合要素を用いた板検査のための渦電流プローブインピーダンス計算の新しいプロセス【Powered by NICT】
New process of the eddy current probe impedance calculation for plate inspection using bidimensional Magnetically Coupled Elements
著者 (4件):
Belhamri A.
(Electrical Engineering Laboratory of Bejaia, Bejaia University, Algeria)
,
Hicham A.
(L2EI Laboratory, University of Jijel, Algeria)
,
Yonnet J.
(G2E Lab, St Martin d’Heres, France)
,
Chebout M.
(L2EI Laboratory, University of Jijel, Algeria)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
INTERMAG
ページ:
1
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)