文献
J-GLOBAL ID:201702286550215994
整理番号:17A1033086
高周波で動作する相互接続における表皮および近接効果のための新しい解析的方程式【Powered by NICT】
New analytical equations for skin and proximity effects in interconnects operated at high frequency
著者 (4件):
Zhang Haojun
(Reliability Engineering, GLOBALFOUNDRIES Inc., Malta, New York USA)
,
Lee Jian-Hsing
(Reliability Engineering, GLOBALFOUNDRIES Inc., Malta, New York USA)
,
Iyer Natarajan Mahadeva
(Reliability Engineering, GLOBALFOUNDRIES Inc., Malta, New York USA)
,
Cao Linjun
(Reliability Engineering, GLOBALFOUNDRIES Inc., Malta, New York USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
EDTM
ページ:
39-41
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)