文献
J-GLOBAL ID:201702286676977497
整理番号:17A1623925
導電性原子間力顕微鏡で調べたチタン酸バリウム分子ビームエピタクシー成長させたの電気的性質【Powered by NICT】
Electrical properties of Molecular Beam Epitaxy grown Barium Titanate probed by conductive Atomic Force Microscopy
著者 (4件):
Martin Simon
(Institut des nanotechnologies de Lyon (INL), Institut National des Sciences Appliquees de Lyon, Universite de Lyon, UMR CNRS 5270, 7 avenue Capelle, F-69621 Villeurbanne Cedex, France)
,
Baboux Nicolas
(Institut des nanotechnologies de Lyon (INL), Institut National des Sciences Appliquees de Lyon, Universite de Lyon, UMR CNRS 5270, 7 avenue Capelle, F-69621 Villeurbanne Cedex, France)
,
Albertini David
(Institut des nanotechnologies de Lyon (INL), Institut National des Sciences Appliquees de Lyon, Universite de Lyon, UMR CNRS 5270, 7 avenue Capelle, F-69621 Villeurbanne Cedex, France)
,
Gautier Brice
(Institut des nanotechnologies de Lyon (INL), Institut National des Sciences Appliquees de Lyon, Universite de Lyon, UMR CNRS 5270, 7 avenue Capelle, F-69621 Villeurbanne Cedex, France)
資料名:
Thin Solid Films
(Thin Solid Films)
巻:
642
ページ:
324-327
発行年:
2017年
JST資料番号:
B0899A
ISSN:
0040-6090
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)