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文献
J-GLOBAL ID：201702286723779781
整理番号：17A0908157
シリコン基板上へのZnS/YbF_3赤外皮膜における欠陥の研究【Powered by NICT】
Study on defects in ZnS/YbF3 infrared coatings on silicon substrates
Zhang Yinhua
(Institute of Optics and Electronics, Chinese Academy of Sciences, Chengdu, Sichuan 610209, China)
,
Zhang Yinhua
(University of Chinese Academy of Science, Beijing 100049, China)
,
Xiong Shengming
(Institute of Optics and Electronics, Chinese Academy of Sciences, Chengdu, Sichuan 610209, China)
,
Huang Wei
(Institute of Optics and Electronics, Chinese Academy of Sciences, Chengdu, Sichuan 610209, China)
資料名：
Surface & Coatings Technology
(Surface & Coatings Technology)
巻： 320 ページ： 3-6 発行年： 2017年
JST資料番号： D0205C ISSN： 0257-8972 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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