文献
J-GLOBAL ID:201702286741744042
整理番号:17A0471253
Cr薄膜の酸化による干渉パターンのピコ秒レーザ記録【Powered by NICT】
Picosecond laser registration of interference pattern by oxidation of thin Cr films
著者 (7件):
Veiko Vadim
(ITMO University, Kronverksky Ave. 49, St. Petersburg, 197101, Russia)
,
Yarchuk Michail
(ITMO University, Kronverksky Ave. 49, St. Petersburg, 197101, Russia)
,
Zakoldaev Roman
(ITMO University, Kronverksky Ave. 49, St. Petersburg, 197101, Russia)
,
Gedvilas Mindaugas
(Center for Physical Sciences and Technology, Savanoriu Ave. 231, LT-02300, Vilnius, Lithuania)
,
Raciukaitis Gediminas
(Center for Physical Sciences and Technology, Savanoriu Ave. 231, LT-02300, Vilnius, Lithuania)
,
Kuzivanov Michail
(ITMO University, Kronverksky Ave. 49, St. Petersburg, 197101, Russia)
,
Baranov Alexander
(ITMO University, Kronverksky Ave. 49, St. Petersburg, 197101, Russia)
資料名:
Applied Surface Science
(Applied Surface Science)
巻:
404
ページ:
63-66
発行年:
2017年
JST資料番号:
B0707B
ISSN:
0169-4332
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)