文献
J-GLOBAL ID:201702286834428119
整理番号:17A1648248
SVM分類器を用いた小表面下欠陥の赤外非破壊認識【Powered by NICT】
Infrared nondestructive recognition of small subsurface defects using a SVM classifier
著者 (4件):
Qian Ronghui
(Harbin Institute of Technology Shenzhen Graduate School, Shenzhen 518000, China)
,
Liu Ze
(Harbin Institute of Technology Shenzhen Graduate School, Shenzhen 518000, China)
,
Hu Hong
(Harbin Institute of Technology Shenzhen Graduate School, Shenzhen 518000, China)
,
Zuo Dan
(Harbin Institute of Technology Shenzhen Graduate School, Shenzhen 518000, China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
ICIA
ページ:
793-803
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)