文献
J-GLOBAL ID:201702287004908045
整理番号:17A0684979
走査型電子顕微鏡と一体化した汎用原子間力顕微鏡
A versatile atomic force microscope integrated with a scanning electron microscope
著者 (5件):
Kreith J.
(Department of Material Physics, Montanuniversitaet Leoben, Jahnstrasse 12, 8700 Leoben, Austria)
,
Strunz T.
(GETec Microscopy GmbH, Vienna, Austria)
,
Fantner E. J.
(GETec Microscopy GmbH, Vienna, Austria)
,
Fantner G. E.
(Laboratoray for Bio- and Nano-Instrumentation, EPFL, Lausanne, Switzerland)
,
Cordill M. J.
(Erich Schmid Institute of Materials Science, Austrian Academy of Sciences, Jahnstrasse 12, Leoben 8700, Austria)
資料名:
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻:
88
号:
5
ページ:
053704-053704-6
発行年:
2017年05月
JST資料番号:
D0517A
ISSN:
0034-6748
CODEN:
RSINAK
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)