文献
J-GLOBAL ID:201702287255416656
整理番号:17A1689025
偏光空隙率測定によるゾル-ゲル薄膜の特性評価
Characterization of sol-gel thin films by ellipsometric porosimetry
著者 (1件):
LOEBMANN Peer
(Fraunhofer-Inst. Silicatforschung, Wuerzburg, DEU)
資料名:
Journal of Sol-Gel Science and Technology
(Journal of Sol-Gel Science and Technology)
巻:
84
号:
1
ページ:
2-15
発行年:
2017年10月
JST資料番号:
W0812A
ISSN:
0928-0707
CODEN:
JSGTEC
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)