文献
J-GLOBAL ID:201702287810915814
整理番号:17A1555318
熱衝撃試験の下での電力デバイスにおけるAlワイヤボンディング強度の分解研究【Powered by NICT】
The degradation investigation of Al wire bonding strength in power device under thermal shock test
著者 (4件):
Fei Jingming
(Beijing spacecraft, China Academy of Space Technology, China)
,
Ren Ping
(Beijing spacecraft, China Academy of Space Technology, China)
,
Wang Ningning
(Beijing spacecraft, China Academy of Space Technology, China)
,
Zhang Binbin
(Beijing spacecraft, China Academy of Space Technology, China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
ICEPT
ページ:
1179-1183
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)