文献
J-GLOBAL ID:201702288607867180
整理番号:17A1271847
構造解析を用いた故障診断のための構造指標値1の半陽的生成DAE【Powered by NICT】
Generating semi-explicit DAEs with Structural Index 1 for fault diagnosis using structural analysis
著者 (2件):
Zogopoulos-Papaliakos Georgios
(Control Systems Lab, School of Mechanical Engineering, National Technical University of Athens, Greece)
,
Kyriakopoulos Kostas J.
(Control Systems Lab, School of Mechanical Engineering, National Technical University of Athens, Greece)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
ICRA
ページ:
5812-5817
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)