文献
J-GLOBAL ID:201702288737520370
整理番号:17A0115141
多重縮退故障のための順序回路の擬似完全試験【Powered by NICT】
Pseudo-exhaustive testing of sequential circuits for multiple stuck-at faults
著者 (2件):
Matrosova A.
(Tomsk State University, Tomsk, Russia)
,
Mitrofanov E.
(Tomsk State University, Tomsk, Russia)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
EWDTS
ページ:
1-4
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)