文献
J-GLOBAL ID:201702288790787573
整理番号:17A0747958
HAADF-STEM原子計数に基づく離散電子断層撮影法のための逆モンテカルロ再構成アルゴリズム【Powered by NICT】
Reverse Monte Carlo reconstruction algorithm for discrete electron tomography based on HAADF-STEM atom counting
著者 (6件):
MOYON F.
(Normandie Univ, UNIROUEN, INSA Rouen, CNRS, Groupe de Physique des Materiaux, Rouen, France)
,
HERNANDEZ-MALDONADO D.
(SuperSTEM STFC Daresbury Laboratories, Warrington, United Kingdom)
,
ROBERTSON M.D.
(Department of Physics, Acadia University, Wolfville, Nova Scotia, Canada)
,
ETIENNE A.
(Normandie Univ, UNIROUEN, INSA Rouen, CNRS, Groupe de Physique des Materiaux, Rouen, France)
,
CASTRO C.
(Normandie Univ, UNIROUEN, INSA Rouen, CNRS, Groupe de Physique des Materiaux, Rouen, France)
,
LEFEBVRE W.
(Normandie Univ, UNIROUEN, INSA Rouen, CNRS, Groupe de Physique des Materiaux, Rouen, France)
資料名:
Journal of Microscopy
(Journal of Microscopy)
巻:
265
号:
1
ページ:
73-80
発行年:
2017年
JST資料番号:
B0454B
ISSN:
0022-2720
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)