文献
J-GLOBAL ID:201702288968838645
整理番号:17A0513632
Bi0.8Sb0.2薄膜におけるマイクロ構造と熱電特性の相関
Correlating thermoelectric properties with microstructure in Bi0.8Sb0.2 thin films
著者 (4件):
Siegal M. P.
(Sandia National Laboratories, Albuquerque, New Mexico 87185-1415, USA)
,
Lima-Sharma A. L.
(Sandia National Laboratories, Albuquerque, New Mexico 87185-1415, USA)
,
Sharma P. A.
(Sandia National Laboratories, Albuquerque, New Mexico 87185-1415, USA)
,
Rochford C.
(Sandia National Laboratories, Albuquerque, New Mexico 87185-1415, USA)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
110
号:
14
ページ:
141905-141905-4
発行年:
2017年04月03日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)