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文献
J-GLOBAL ID：201702289381850731
整理番号：17A1125314
ウェーブレットを用いた大面積MIMコンデンサの故障部位の空間的解析【Powered by NICT】
Spatial analysis of failure sites in large area MIM capacitors using wavelets
Munoz-Gorriz J.
(Departament d’Enginyeria Electronica, Universitat Autonoma de Barcelona, Spain)
,
Monaghan S.
(Tyndall National Institute, University College Cork, Cork, Ireland)
,
Cherkaoui K.
(Tyndall National Institute, University College Cork, Cork, Ireland)
,
Sune J.
(Departament d’Enginyeria Electronica, Universitat Autonoma de Barcelona, Spain)
,
Hurley P.K.
(Tyndall National Institute, University College Cork, Cork, Ireland)
,
Miranda E.
(Departament d’Enginyeria Electronica, Universitat Autonoma de Barcelona, Spain)
資料名：
Microelectronic Engineering
(Microelectronic Engineering)
巻： 178 ページ： 10-16 発行年： 2017年
JST資料番号： C0406B ISSN： 0167-9317 CODEN： MIENEF 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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