文献
J-GLOBAL ID:201702289813930273
整理番号:17A0518456
走査型トンネル分光法および微分コンダクタンスイメージングによる2Dトポロジカル絶縁体の表面状態およびエッジ状態の同時観察
Simultaneous observation of surface- and edge-states of a 2D topological insulator through scanning tunneling spectroscopy and differential conductance imaging
著者 (4件):
Bhunia Hrishikesh
(Department of Solid State Physics, Indian Association for the Cultivation of Science, Jadavpur, Kolkata 700032, India. sspajp@iacs.res.in)
,
Bar Abhijit
,
Bera Abhijit
,
Pal Amlan J.
資料名:
Physical Chemistry Chemical Physics
(Physical Chemistry Chemical Physics)
巻:
19
号:
15
ページ:
9872-9878
発行年:
2017年
JST資料番号:
A0271C
ISSN:
1463-9076
CODEN:
PPCPFQ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)