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文献
J-GLOBAL ID:201702289813930273   整理番号:17A0518456

走査型トンネル分光法および微分コンダクタンスイメージングによる2Dトポロジカル絶縁体の表面状態およびエッジ状態の同時観察

Simultaneous observation of surface- and edge-states of a 2D topological insulator through scanning tunneling spectroscopy and differential conductance imaging
著者 (4件):
Bhunia Hrishikesh
(Department of Solid State Physics, Indian Association for the Cultivation of Science, Jadavpur, Kolkata 700032, India. sspajp@iacs.res.in)
Bar Abhijit
Bera Abhijit
Pal Amlan J.

資料名:
Physical Chemistry Chemical Physics  (Physical Chemistry Chemical Physics)

巻: 19  号: 15  ページ: 9872-9878  発行年: 2017年 
JST資料番号: A0271C  ISSN: 1463-9076  CODEN: PPCPFQ  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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