文献
J-GLOBAL ID:201702290100313956
整理番号:17A0540694
散乱線の測定による減弱係数の推定精度向上~光電吸収の導入~
Improvement of Estimation Accuracy of Attenuation Coefficient using Scattered X-Rays
著者 (5件):
中神徹也
(愛知県大)
,
戸田尚宏
(愛知県大)
,
山崎陽一
(関西学院大)
,
吉岡博貴
(愛知県大)
,
小山修司
(名古屋大 脳とこころの研究セ)
資料名:
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻:
116
号:
520(MBE2016 82-102)
ページ:
75-78
発行年:
2017年03月06日
JST資料番号:
S0532B
ISSN:
0913-5685
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)