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文献
J-GLOBAL ID：201702290375371955
整理番号：17A0850862
サブナノメータ分解能XPS深さプロファイリング:原子の検出【Powered by NICT】
Sub-nanometer resolution XPS depth profiling: Sensing of atoms
Szklarczyk Marek
(Faculty of Chemistry, University of Warsaw, ul. Pasteura 1, 02-093 Warsaw, Poland)
,
Szklarczyk Marek
(Shim-Pol, ul. Lubomirskiego 5, 05-080 Izabelin, Poland)
,
Macak Karol
(Kratos Analytical Ltd, Wharfside, Trafford Wharf Road, Manchester, M17 1GP, UK)
,
Roberts Adam J.
(Kratos Analytical Ltd, Wharfside, Trafford Wharf Road, Manchester, M17 1GP, UK)
,
Takahashi Kazuhiro
(Kratos XPS Section, Shimadzu Corp., 380-1 Horiyamashita, Hadano, Kanagawa 259-1304, Japan)
,
Hutton Simon
(Kratos Analytical Ltd, Wharfside, Trafford Wharf Road, Manchester, M17 1GP, UK)
,
Glaszczka Rafal
(Shim-Pol, ul. Lubomirskiego 5, 05-080 Izabelin, Poland)
,
Blomfield Christopher
(Kratos Analytical Ltd, Wharfside, Trafford Wharf Road, Manchester, M17 1GP, UK)
資料名：
Applied Surface Science
(Applied Surface Science)
巻： 411 ページ： 386-393 発行年： 2017年
JST資料番号： B0707B ISSN： 0169-4332 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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