文献
J-GLOBAL ID:201702290402556382
整理番号:17A0362507
集積パワーエレクトロニクスの寿命と製造【Powered by NICT】
Lifetime and manufacturability of integrated power electronics
著者 (3件):
Randoll R.
(Daimler AG, Research and Development, Hanns-Klemm-Str. 45, 71034 Boblingen, Germany)
,
Wondrak W.
(Daimler AG, Research and Development, Hanns-Klemm-Str. 45, 71034 Boblingen, Germany)
,
Schletz A.
(Fraunhofer IISB, Abteilung Bauelemente und Zuverlaessigkeit, Landgrabenstrasse 94, 90443 Nuernberg, Germany)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
64
ページ:
513-518
発行年:
2016年
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)