文献
J-GLOBAL ID:201702290455826231
整理番号:17A1636820
H BT接合部温度の知識ベースニューラルネットワーク(KBNN)モデル化と電気的測定からの熱抵抗【Powered by NICT】
Knowledge-based neural network (KBNN) modeling of HBT junction temperature and thermal resistance from electrical measurements
著者 (4件):
Iwamoto Masaya
(Keysight Technologies, Inc., Santa Rosa, CA, 95403, USA)
,
Xu Jianjun
(Keysight Technologies, Inc., Santa Rosa, CA, 95403, USA)
,
Zhou Wenfan
(Keysight Technologies, Inc., Santa Rosa, CA, 95403, USA)
,
Root David E.
(Keysight Technologies, Inc., Santa Rosa, CA, 95403, USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
IMS
ページ:
1069-1071
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)