文献
J-GLOBAL ID:201702290499963457
整理番号:17A1648170
コンピュータビジョンに基づく絶縁体欠陥検出アルゴリズム【Powered by NICT】
An insulator defect detection algorithm based on computer vision
著者 (4件):
Zuo Dan
(Harbin Institute of Technology Shenzhen Graduate School, Shenzhen, 518005, China)
,
Hu Hong
(Harbin Institute of Technology Shenzhen Graduate School, Shenzhen, 518005, China)
,
Qian Ronghui
(Harbin Institute of Technology Shenzhen Graduate School, Shenzhen, 518005, China)
,
Liu Ze
(Harbin Institute of Technology Shenzhen Graduate School, Shenzhen, 518005, China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
ICIA
ページ:
361-365
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)