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文献
J-GLOBAL ID:201702290654837352   整理番号:17A1365499

蓄積電荷測定法による有機半導体/金属界面の電荷注入障壁測定

著者 (8件):
田島裕之
(兵県大)
角屋智史
(兵県大)
山田順一
(兵県大)
佐藤井一
(兵県大)
大塚理人
(兵県大)
荻野晃成
(兵県大)
横松得滋
(兵県大 工)
前中一介
(兵県大 工)

資料名:
日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))

巻: 72  号:ページ: ROMBUNNO.23pE21-2  発行年: 2017年09月25日 
JST資料番号: S0671C  ISSN: 2189-079X  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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