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文献
J-GLOBAL ID：201702290654837352
整理番号：17A1365499
蓄積電荷測定法による有機半導体/金属界面の電荷注入障壁測定
田島裕之
(兵県大)
,
角屋智史
(兵県大)
,
山田順一
(兵県大)
,
佐藤井一
(兵県大)
,
大塚理人
(兵県大)
,
荻野晃成
(兵県大)
,
横松得滋
(兵県大 工)
,
前中一介
(兵県大 工)
資料名：
日本物理学会講演概要集(CD-ROM)
(日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
巻： 72 号： 2 ページ： ROMBUNNO.23pE21-2 発行年： 2017年09月25日
JST資料番号： S0671C ISSN： 2189-079X 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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