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文献
J-GLOBAL ID：201702290919329417
整理番号：17A1410045
アリコロニーフィッティングアルゴリズムを用いたエリプソメトリーによる異方性薄膜の光学定数の測定の改良
Improved determination of the optical constants of anisotropic thin films by ellipsometry using ant colony fitting algorithms
BISSON Jean-Francois
(Univ. de Moncton, Moncton, CAN)
,
CORMIER Gabriel
(Univ. de Moncton, Moncton, CAN)
,
BUSUNGU Ange
(Univ. de Moncton, Moncton, CAN)
,
AMOUZOU Koffi N.
(Univ. de Moncton, Moncton, CAN)
資料名：
Journal of the Optical Society of America. B. Optical Physics
(Journal of the Optical Society of America. B. Optical Physics)
巻： 34 号： 9 ページ： 1957-1964 発行年： 2017年09月01日
JST資料番号： C0977A ISSN： 0740-3224 CODEN： JOBPDE 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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