文献
J-GLOBAL ID:201702291324356852
整理番号:17A1027365
構造化スキャンパターンはアクセス動的装置のためのリターゲッティング【Powered by NICT】
Structured scan patterns retargeting for dynamic instruments access
著者 (2件):
Ibrahim Ahmed
(Testable Design and Test of Integrated Systems Group (TDT), Centre of Telematics and Information Technology (CTIT), University of Twente, Enschede, the Netherlands)
,
Kerkhoff Hans G.
(Testable Design and Test of Integrated Systems Group (TDT), Centre of Telematics and Information Technology (CTIT), University of Twente, Enschede, the Netherlands)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
VTS
ページ:
1-6
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)