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文献
J-GLOBAL ID：201702291629709457
整理番号：17A0575022
ケイ素二重量子ドットの準位スペクトルおよび電荷緩和の二重ゲート反射測定による検出
Level Spectrum and Charge Relaxation in a Silicon Double Quantum Dot Probed by Dual-Gate Reflectometry
CRIPPA Alessandro
(Univ. Grenoble Alpes, Grenoble, FRA)
,
CRIPPA Alessandro
(Universita di Milano Bicocca, Milano, ITA)
,
CRIPPA Alessandro
(IMM, CNR, Agrate Brianza (MB), ITA)
,
MAURAND Romain
(Univ. Grenoble Alpes, Grenoble, FRA)
,
KOTEKAR-PATIL Dharmraj
(Univ. Grenoble Alpes, Grenoble, FRA)
,
CORNA Andrea
(Univ. Grenoble Alpes, Grenoble, FRA)
,
BOHUSLAVSKYI Heorhii
(Univ. Grenoble Alpes, Grenoble, FRA)
,
BOHUSLAVSKYI Heorhii
(LETI, CEA, Grenoble, FRA)
,
ORLOV Alexei O.
(Univ. Notre Dame, Indiana, USA)
,
FAY Patrick
(Univ. Notre Dame, Indiana, USA)
,
LAVIEVILLE Romain
(Univ. Grenoble Alpes, Grenoble, FRA)
,
LAVIEVILLE Romain
(LETI, CEA, Grenoble, FRA)
,
BARRAUD Sylvain
(Univ. Grenoble Alpes, Grenoble, FRA)
,
BARRAUD Sylvain
(LETI, CEA, Grenoble, FRA)
,
VINET Maud
(Univ. Grenoble Alpes, Grenoble, FRA)
,
VINET Maud
(LETI, CEA, Grenoble, FRA)
,
SANQUER Marc
(Univ. Grenoble Alpes, Grenoble, FRA)
,
DE FRANCESCHI Silvano
(Univ. Grenoble Alpes, Grenoble, FRA)
,
JEHL Xavier
(Univ. Grenoble Alpes, Grenoble, FRA)
資料名：
Nano Letters
(Nano Letters)
巻： 17 号： 2 ページ： 1001-1006 発行年： 2017年02月
JST資料番号： W1332A ISSN： 1530-6984 CODEN： NALEFD 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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