文献
J-GLOBAL ID:201702291638242112
整理番号:17A1033493
16nm FinFET RISCプロセッサのための多電圧と適応電圧スケーリング技術の新しいアプローチ【Powered by NICT】
A new approach of multi voltage and adaptive voltage scaling techniques for 16 nm FinFET RISC processor
著者 (6件):
Babayan Davit
(National polytechnic university of Armenia, Synopsys Armenia CJSC)
,
Babayan Eduard
(National polytechnic university of Armenia, Synopsys Armenia CJSC)
,
Antonyan Sevak
(National polytechnic university of Armenia, Synopsys Armenia CJSC)
,
Salmasyan Ani
(National polytechnic university of Armenia, Synopsys Armenia CJSC)
,
Kagramanyan Emil
(National polytechnic university of Armenia, Synopsys Armenia CJSC)
,
Avetisyan Aram
(National polytechnic university of Armenia, Synopsys Armenia CJSC)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
ELNANO
ページ:
128-131
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)