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文献
J-GLOBAL ID：201702292100961183
整理番号：17A1346108
ゲート遅延測定に基づくランダム電信雑音の統計的解析とモデル化【Powered by NICT】
Statistical Analysis and Modeling of Random Telegraph Noise Based on Gate Delay Measurement
Islam A. K. M. Mahfuzul
(Institute of Industrial Science, University of Tokyo, Tokyo, Japan)
,
Nakai Tatsuya
(Graduate School of Informatics, Kyoto University, Kyoto, Japan)
,
Onodera Hidetoshi
(Graduate School of Informatics, Kyoto University, Kyoto, Japan)
資料名：
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing
(IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing)
巻： 30 号： 3 ページ： 216-226 発行年： 2017年
JST資料番号： T0521A ISSN： 0894-6507 CODEN： ITSMED 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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