文献
J-GLOBAL ID:201702293192835146
整理番号:17A1636062
航空機のためのパワーエレクトロニクスデバイスの信頼性特性の解析【Powered by NICT】
Analysis on reliability characteristics of power electronic devices for aerial vehicles
著者 (3件):
Kim Myungchin
(School of Electrical Engineering, Chungbuk National University, Cheongju, South Korea)
,
Bae Sungwoo
(Dept. of Electrical Engineering, Yeungnam University, Gyeongsan, South Korea)
,
Choung Seung H.
(School of IT Engineering, Yonam Institute of Technology, Jinju, South Korea)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
ICEMS
ページ:
1-5
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)