文献
J-GLOBAL ID:201702293977225597
整理番号:17A0640864
Cu-SiO2-p-InSb MIS構造の容量電圧特性の特徴
Specific Features of the Capacitance-Voltage Characteristics of a Cu-SiO2-p-InSb MIS Structure
著者 (6件):
ALIEV R. A.
(Dagestan Scientific Center, Russian Acad. Sci., Makhachkala, RUS)
,
GAJIEV G. M.
(Dagestan Scientific Center, Russian Acad. Sci., Makhachkala, RUS)
,
GADZHIALIEV M. M.
(Dagestan Scientific Center, Russian Acad. Sci., Makhachkala, RUS)
,
ISMAILOV A. M.
(Dagestan Scientific Center, Russian Acad. Sci., Makhachkala, RUS)
,
ISMAILOV A. M.
(Dagestan State Univ., Makhachkala, RUS)
,
PIRMAGOMEDOV Z. Sh.
(Dagestan Scientific Center, Russian Acad. Sci., Makhachkala, RUS)
資料名:
Semiconductors
(Semiconductors)
巻:
51
号:
3
ページ:
367-369
発行年:
2017年03月
JST資料番号:
T0093A
ISSN:
1063-7826
CODEN:
SMICES
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)