文献
J-GLOBAL ID:201702296267439368
整理番号:17A1273939
高温度/湿度環境条件下でのCu-Al WB腐食のパッケージレベルマルチフィジックスシミュレーション【Powered by NICT】
Package-level multiphysics simulation of Cu-Al WB corrosion under high temperature/humidity environmental conditions
著者 (3件):
Lall Pradeep
(Auburn University, NSF-CAVE3, Electronic Research Center, Department of Mechanical Engineering, Auburn, AL. 36849)
,
Luo Yihua
(Auburn University, NSF-CAVE3, Electronic Research Center, Department of Mechanical Engineering, Auburn, AL. 36849)
,
Nguyen Luu
(Texas Instruments, Santa Clara, CA, 95052)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
ITherm
ページ:
1176-1184
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)