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J-GLOBAL ID：201702297241309760 整理番号：17A0240703

貯蔵過渡誤り耐性を持つASICのためのECCモジュール最適化【Powered by NICT】

ECC module optimization for storage transient error-tolerant ASICs

著者 (1件)：

Inoue Keisuke

(Department of Global Information And Management, Kanazawa Technical College, Ishikawa, Japan 921-8601)

資料名：

IEEE Conference Proceedings (IEEE Conference Proceedings)

巻： 2016 号： ICECS ページ： 269-272 発行年： 2016年
JST資料番号： W2441A 資料種別：会議録 (C)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

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