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文献
J-GLOBAL ID：201802210126906824
整理番号：18A0973506
ソフトエラー耐性TCAMにおけるビットフリップ検出法【JST・京大機械翻訳】
A Method to Detect Bit Flips in a Soft-Error Resilient TCAM
Syafalni Infall
(ASIC Development Group, Logic Research Company Ltd., Fukuoka, Japan)
,
Sasao Tsutomu
(Department of Computer Science, Meiji University, Kawasaki, Japan)
,
Wen Xiaoqing
(Department of Creative Information, Kyushu Institute of Technology, Iizuka, Japan)
資料名：
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
(IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems)
巻： 37 号： 6 ページ： 1185-1196 発行年： 2018年
JST資料番号： B0142C ISSN： 0278-0070 CODEN： ITCSDI 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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