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文献
J-GLOBAL ID:201802210126906824   整理番号:18A0973506

ソフトエラー耐性TCAMにおけるビットフリップ検出法【JST・京大機械翻訳】

A Method to Detect Bit Flips in a Soft-Error Resilient TCAM
著者 (3件):
Syafalni Infall
(ASIC Development Group, Logic Research Company Ltd., Fukuoka, Japan)
Sasao Tsutomu
(Department of Computer Science, Meiji University, Kawasaki, Japan)
Wen Xiaoqing
(Department of Creative Information, Kyushu Institute of Technology, Iizuka, Japan)

資料名:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems  (IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems)

巻: 37  号:ページ: 1185-1196  発行年: 2018年 
JST資料番号: B0142C  ISSN: 0278-0070  CODEN: ITCSDI  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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