文献
J-GLOBAL ID:201802210413623201
整理番号:18A0588825
エネルギーバンドギャップ決定を用いた水中半導体デバイスのための実時間診断システム【Powered by NICT】
Real-time diagnostic system for submerged semiconductor devices using energy band gap determination
著者 (3件):
Saufi N. S. Md.
(Physics Kit & Instrumentation Research Group (PhyKiR), Physics Department, Faculty of Science & Mathematics, Universiti Pendidikan Sultan Idris, Sultan Azlan Shah Campus, 35900 Tanjung Malim, Perak, Malaysia)
,
Abdullah N. S. Y.
(Physics Kit & Instrumentation Research Group (PhyKiR), Physics Department, Faculty of Science & Mathematics, Universiti Pendidikan Sultan Idris, Sultan Azlan Shah Campus, 35900 Tanjung Malim, Perak, Malaysia)
,
Yaacob M. I. H.
(Physics Kit & Instrumentation Research Group (PhyKiR), Physics Department, Faculty of Science & Mathematics, Universiti Pendidikan Sultan Idris, Sultan Azlan Shah Campus, 35900 Tanjung Malim, Perak, Malaysia)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
USYS
ページ:
1-4
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)