文献
J-GLOBAL ID:201802210434657949
整理番号:18A0027414
FinFET SRAMの変動性に及ぼすベースの物理的クローン不可能機能(PUF)の評価と最適化【Powered by NICT】
Evaluation and optimization of physical unclonable function (PUF) based on the variability of FinFET SRAM
著者 (5件):
Zhang Shen
(Institute of Microelectronics, Tsinghua University, Beijing 100084, China)
,
Gao Bin
(Institute of Microelectronics, Tsinghua University, Beijing 100084, China)
,
Wu Dong
(Institute of Microelectronics, Tsinghua University, Beijing 100084, China)
,
Wu Huaqiang
(Institute of Microelectronics, Tsinghua University, Beijing 100084, China)
,
Qian He
(Institute of Microelectronics, Tsinghua University, Beijing 100084, China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
EDSSC
ページ:
1-2
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)