文献
J-GLOBAL ID:201802210705757087
整理番号:18A0200909
低損失はんだマスクを用いたマイクロストリップ信号完全性の向上【Powered by NICT】
Microstrip signal integrity enhancement by using low-loss solder mask
著者 (4件):
Hsu Jimmy
(Intel Microelectronics Asia LLC, Taiwan Branch, 20F, #369, Sec. 7, Zhong-Xiao E. Rd., Nan-Gang District, Taipei, Taiwan (R.O.C.) 11561)
,
Su Thonas
(Intel Microelectronics Asia LLC, Taiwan Branch, 20F, #369, Sec. 7, Zhong-Xiao E. Rd., Nan-Gang District, Taipei, Taiwan (R.O.C.) 11561)
,
Ye Xiaoning
(Intel Microelectronics Asia LLC, Taiwan Branch, 20F, #369, Sec. 7, Zhong-Xiao E. Rd., Nan-Gang District, Taipei, Taiwan (R.O.C.) 11561)
,
Lin Cucumber
(Intel Microelectronics Asia LLC, Taiwan Branch, 20F, #369, Sec. 7, Zhong-Xiao E. Rd., Nan-Gang District, Taipei, Taiwan (R.O.C.) 11561)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
IMPACT
ページ:
122-125
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)