文献
J-GLOBAL ID:201802210830226539
整理番号:18A1805608
微小エッジ局在モードに対する抵抗率の効果【JST・京大機械翻訳】
Effect of resistivity on small edge localized mode
著者 (4件):
Wu N.
(College of Physical Science and Technology, Sichuan University, Chengdu 610064, China)
,
Chen S. Y.
(College of Physical Science and Technology, Sichuan University, Chengdu 610064, China)
,
Mou M. L.
(College of Physical Science and Technology, Sichuan University, Chengdu 610064, China)
,
Tang C. J.
(College of Physical Science and Technology, Sichuan University, Chengdu 610064, China)
資料名:
Physics of Plasmas
(Physics of Plasmas)
巻:
25
号:
9
ページ:
092305-092305-9
発行年:
2018年
JST資料番号:
T0641B
ISSN:
1070-664X
CODEN:
PHPAEN
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)