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文献
J-GLOBAL ID：201802211048266020
整理番号：18A0073685
バックゲーティング効果を利用したアナログ応用のための独立ゲートFinFETのRF感度解析【Powered by NICT】
RF sensitivity analysis of independent-gates FinFETs for analog applications exploiting the back-gating effect
Bughio A. M.
(Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni, Politecnico di Torino, Corso Duca degli Abruzzi, 24, I-10129 Torino, Italy)
,
Guerrieri S. Donati
(Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni, Politecnico di Torino, Corso Duca degli Abruzzi, 24, I-10129 Torino, Italy)
,
Bonani F.
(Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni, Politecnico di Torino, Corso Duca degli Abruzzi, 24, I-10129 Torino, Italy)
,
Ghione G.
(Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni, Politecnico di Torino, Corso Duca degli Abruzzi, 24, I-10129 Torino, Italy)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017 号： EuMIC ページ： 256-259 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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