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文献
J-GLOBAL ID:201802212006231788   整理番号:18A0722133

ソースドレイン空乏長を含むGaussドープ二重ゲート無接合(Gd-DG-JL)トランジスタの研究:サブ閾値挙動のモデル【JST・京大機械翻訳】

Study of Gaussian Doped Double Gate JunctionLess (GD-DG-JL) transistor including source drain depletion length: Model for sub-threshold behavior
著者 (4件):
Kumari Vandana
(Department of Electronics, Maharaja Agrasen College, University of Delhi, India)
Kumar Ayush
(Electronics & Communication Engineering, National Institute of Technology, Hamirpur, Himachal Pradesh, India)
Saxena Manoj
(Department of Electronics, Deen Dayal Upadhyaya College, University of Delhi, India)
Gupta Mridula
(Semiconductor Device Research Laboratory, Department of Electronic Science, University of Delhi, South Campus, New Delhi, India)

資料名:
Superlattices and Microstructures  (Superlattices and Microstructures)

巻: 113  ページ: 57-70  発行年: 2018年 
JST資料番号: D0600B  ISSN: 0749-6036  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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