文献
J-GLOBAL ID:201802212090897152
整理番号:18A2110778
単一電流遮断後の高電流アークモードの光学的および電気的研究と接触微細構造との相関【JST・京大機械翻訳】
Optical and Electrical Investigation of High-Current Arcing Modes and Correlation with Contact Microstructure after Single Current Interruption
著者 (6件):
Feilbach A.
(High Voltage Laboratories, Technische Universitaet Darmstadt, Darmstadt, Germany)
,
Hinrichsen V.
(High Voltage Laboratories, Technische Universitaet Darmstadt, Darmstadt, Germany)
,
Hauf U.
(Institute for Applied Materials, Karlsruhe Institute of Technology, Karlsruhe, Germany)
,
Heilmaier M.
(Institute for Applied Materials, Karlsruhe Institute of Technology, Karlsruhe, Germany)
,
Boening M.
(Plansee Powertech AG, Seon, Switzerland)
,
Mueller F. E. H.
(Plansee Powertech AG, Seon, Switzerland)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2018
号:
ISDEIV
ページ:
169-172
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)