文献
J-GLOBAL ID:201802212371877061
整理番号:18A0588575
FDSOI MOSFETにおける自己加熱の評価と冷間電流抽出【Powered by NICT】
Self-heating assessment and cold current extraction in FDSOI MOSFETs
著者 (7件):
Triantopoulos K.
(CEA, LETI, MINATEC Campus, 17 rue des Martyrs, F-38054 Cedex, Grenoble, France)
,
Casse M.
(CEA, LETI, MINATEC Campus, 17 rue des Martyrs, F-38054 Cedex, Grenoble, France)
,
Brunet L.
(CEA, LETI, MINATEC Campus, 17 rue des Martyrs, F-38054 Cedex, Grenoble, France)
,
Batude P.
(CEA, LETI, MINATEC Campus, 17 rue des Martyrs, F-38054 Cedex, Grenoble, France)
,
Fenouillet-Beranger C.
(CEA, LETI, MINATEC Campus, 17 rue des Martyrs, F-38054 Cedex, Grenoble, France)
,
Reimbold G.
(CEA, LETI, MINATEC Campus, 17 rue des Martyrs, F-38054 Cedex, Grenoble, France)
,
Ghibaudo G.
(IMEP-LAHC, MINATEC 3 Parvis Louis Ne ́el, 38016 Grenoble, France)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
S3S
ページ:
1-3
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)