文献
J-GLOBAL ID:201802212692563104
整理番号:18A1384897
3D NANDフラッシュアレイにおけるランダム電信雑音に及ぼすサイクリングの影響【JST・京大機械翻訳】
Impact of Cycling on Random Telegraph Noise in 3-D NAND Flash Arrays
著者 (4件):
Nicosia Gianluca
(Dipartimento di Elettronica, Informazione e Bioingegneria, Politecnico di Milano, Milano, Italy)
,
Goda Akira
(Process Research and Development, Micron Technology Inc., Boise, ID, USA)
,
Spinelli Alessandro S.
(Dipartimento di Elettronica, Informazione e Bioingegneria, Politecnico di Milano, Milano, Italy)
,
Monzio Compagnoni Christian
(Dipartimento di Elettronica, Informazione e Bioingegneria, Politecnico di Milano, Milano, Italy)
資料名:
IEEE Electron Device Letters
(IEEE Electron Device Letters)
巻:
39
号:
8
ページ:
1175-1178
発行年:
2018年
JST資料番号:
B0344B
ISSN:
0741-3106
CODEN:
EDLEDZ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)