文献
J-GLOBAL ID:201802213289636039
整理番号:18A0074291
テストスイート簡約のための拡張回帰試験モデル【Powered by NICT】
Extended regression test model for test suite reduction
著者 (1件):
Lawanna Adtha
(Department of Information Technology, Science and Technology, Assumption University, Samuthprakarn, Thailand)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
GCCE
ページ:
1-5
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)