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文献
J-GLOBAL ID：201802213769906178
整理番号：18A0859198
先進BiCMOSとCMOSにおける高分解能GS/Sサンプラーの解析と比較【JST・京大機械翻訳】
Analysis and Comparison of High-Resolution GS/s Samplers in Advanced BiCMOS and CMOS
Lal Deeksha
(Department of Electrical and Computer Engineering, North Carolina State University, Raleigh, NC, USA)
,
Ali Ahmed M. A.
(Analog Devices Inc., Greensboro, NC, USA)
,
Ricketts David S.
(Department of Electrical and Computer Engineering, North Carolina State University, Raleigh, NC, USA)
資料名：
IEEE Transactions on Circuits and Systems 2: Express Briefs
(IEEE Transactions on Circuits and Systems 2: Express Briefs)
巻： 65 号： 5 ページ： 532-536 発行年： 2018年
JST資料番号： W0347A ISSN： 1549-7747 CODEN： ITCSFK 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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