文献
J-GLOBAL ID:201802213798733050
整理番号:18A0521799
ナノメートルICのための高速故障検出のためのエレクトロマイグレーション老化を加速【Powered by NICT】
Accelerating electromigration aging for fast failure detection for nanometer ICs
著者 (4件):
Sun Zeyu
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of California, Riverside, CA 92521)
,
Sadiqbatcha Sheriff
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of California, Riverside, CA 92521)
,
Zhao Hengyang
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of California, Riverside, CA 92521)
,
Tan Sheldon X.-D.
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of California, Riverside, CA 92521)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2018
号:
ASP-DAC
ページ:
623-630
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)