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文献
J-GLOBAL ID:201802214272532252   整理番号:18A0002209

オペランド斜入射X線小角散乱および軟X線吸収分光を用いたアイオノマー/電極界面におけるアイオノマー構造

Nafion/electrode interfacial structure analyzed via operando grazing incidence X-ray scattering spectroscopy and X-ray absorption spectroscopy
著者 (16件):
GAO Xiao
(京大)
高橋勝国
(京大)
LIU Chen
(京大)
山本健太郎
(京大)
内山智貴
(京大)
中本康介
(京大)
谷田肇
(日産アーク)
高尾直樹
(日産アーク)
松本匡史
(日産アーク)
今井英人
(日産アーク)
与儀千尋
(日産アーク)
横山浩司
(FC-Cubic)
菅原生豊
(FC-Cubic)
篠原和彦
(FC-Cubic)
大木真里亜
(FC-Cubic)
内本喜晴
(京大)

資料名:
電池討論会講演要旨集

巻: 58th  ページ: 367  発行年: 2017年11月13日 
JST資料番号: L1273A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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