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文献
J-GLOBAL ID：201802215163360616
整理番号：18A1149845
V_thシフトSRAMセルTEGを用いた直接測定によるモンテカルロ解析【JST・京大機械翻訳】
Monte Carlo analysis by direct measurement using Vth-shiftable SRAM cell TEG
Yamaguchi Shogo
(Center for Microelectronic Systems, Kyushu Institute of Technology, 680-4 Kawazu, Iizuka, Fukuoka, JAPAN 820-8502)
,
Nishikata Daisuke
(Center for Microelectronic Systems, Kyushu Institute of Technology, 680-4 Kawazu, Iizuka, Fukuoka, JAPAN 820-8502)
,
Imi Hitoshi
(Center for Microelectronic Systems, Kyushu Institute of Technology, 680-4 Kawazu, Iizuka, Fukuoka, JAPAN 820-8502)
,
Nakamura Kazuyuki
(Center for Microelectronic Systems, Kyushu Institute of Technology, 680-4 Kawazu, Iizuka, Fukuoka, JAPAN 820-8502)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018 号： ICMTS ページ： 93-96 発行年： 2018年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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